EMI近場(chǎng)探頭測(cè)試及應(yīng)用
一、EMI 電磁預(yù)兼容測(cè)試
電磁兼容的常見術(shù)語
–EMC(ElectroMagneticCompatibility) 電磁兼容
–EMI(ElectroMagneticInterference) 電磁干擾
–EMS(ElectroMagneticSusceptibility) 電磁抗擾
–CISPR 無線電子干擾標(biāo)準(zhǔn)化特別委員會(huì)
| 地區(qū) | 認(rèn)證機(jī)構(gòu) | 標(biāo)準(zhǔn) |
| IEC | CISPR | CISPRPub.xx |
| 歐盟 | CENELEC | EN550xx |
| 美國 | FCC,DoD | FCCPartxx |
| 日本 | VCCI | J550xx |
| 中國大陸 | CCC,MoD | GBxxxx-xxxx |
二、電磁兼容測(cè)試
很多客戶在產(chǎn)品研發(fā)完成后才交付EMI 實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行電磁兼容測(cè)試
三、EMI 電磁預(yù)兼容測(cè)試的重要性
我們推薦所有的電子類產(chǎn)品都進(jìn)行EMI 預(yù)兼容測(cè)試
EMI 預(yù)兼容測(cè)試: 在早的時(shí)間發(fā)現(xiàn)和解決電磁干擾的問題，不僅僅是通過/失敗測(cè)試，還需要EMI 故障排查，終解決問題。
四、EMI 傳導(dǎo)測(cè)試和輻射測(cè)試
傳導(dǎo)測(cè)試
EUT+人工電源網(wǎng)絡(luò)+限幅器+EMI接收機(jī)
輻射測(cè)試
EUT+天線+EMI測(cè)試儀表
五、輻射測(cè)試環(huán)境的搭建
預(yù)測(cè)試目標(biāo)：通過旋轉(zhuǎn)被測(cè)件，改變天線的高度和計(jì)劃方向，找到被測(cè)件的輻射大值
六、一些常見的EMI 測(cè)試附件
對(duì)數(shù)周期天線: 200 to 1000MHz
雙錐天線： 30 to 300 MHz
近場(chǎng)探頭
牛角天線18 GHz
人工電源網(wǎng)絡(luò)/線性阻抗模擬網(wǎng)絡(luò)
七、傳導(dǎo)/輻射測(cè)試對(duì)儀表的要求 
八、準(zhǔn)峰值檢波器和正峰值檢波器的區(qū)別
九、是德N9322C: 6 合1 頻譜分析儀
9 kHz –7 GHz
頻譜分析
天線/線纜測(cè)試
干擾分析
解調(diào)分析
功率計(jì)
EMI測(cè)試
