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近場探頭及放大器的應用方案介紹
  • 發布日期:2019-08-29      瀏覽次數:1400
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      近場探頭及放大器的應用方案介紹

      (EM8030 近場探頭+EM8020A/B 放大器)

      專為近場測試設計的探頭

      特別適用于電子產品的電磁場測量 

       

      一、為什么要近場測量

             在EMC 測試認證標準中,是遠場測量,遠場測試只是能給出頻率信息。顯示各個頻點的輻射強度,但是沒有給出具體的位置信息。為了通過測試,如果沒有目的的對電路進行更改,將會花大量的時間,精力,經費。加長了產品的研發周期。所以必須對產品的輻射根源進行排查,這樣就要用到近場探頭來具體定位干擾源,后級接放大器,可大大提高測試靈敏度。

       

      二、CYBERTEK 近場探頭套件特點

      1. 寬頻率范圍,多種形狀的探頭,可以完成多種的電磁場測試任務。
      2. 通過移動探頭可以檢測出磁場的方向和分布,適用于機箱線纜電磁泄露,IC 引腳區域,EMC 器件等的磁場檢測。
      3. 無源探頭,可以直接連到頻譜分析儀或者示波器的50 歐姆輸入端,方便檢查使用不同手段對磁場或者電流的變化。如果應用場合的信號比較弱,可在后級增加EM8020A/B 放大器,增益約20dB/30dB,提高系統測試靈敏度!
      4. 探頭輕巧,使用方便。

       

      三、近場探頭應用領域

      1. 查找干擾源,完成定位,甚至可以到IC 引腳以及具體的走線,從而判斷干擾產生的原因
      2. 可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強度
      3. 可以檢測機箱、線纜、PCB 模塊等磁場泄露情況

       

      四、測試示意圖

            CYBERTEK EM8030 近場探頭測試頻率可達3G,在產品的開發期間可用探測PCB 的磁場變化情況。如電動機磁場輻射強度很強,可以不加放大器。示意圖如下:

       

      五、測試方法

            步利用EM8030-1 或者EM8030-2 檢測大概磁

            第二步利用EM8030-3 或者EM8030-4 實現準確定位

      示意圖如下:

       


      六、應用案例(開關電源)

            步利用EM8030-1 探測PCB 某處磁場大概強度

      從圖上可以看到:10MHz 附近70MHz 附近107MHz 附近有較強的磁場輻射

      第二步利用EM8030-3 進一步定位(發現探頭附近有兩個很長的引線,探測這兩根線)


       

      上圖看到探測到的這根線(該線為電池供電時的初級線圈)輻射比較強,頻率在10MHz 附近和70MHz 附近!

       

       

              上圖看到探測到的這根線(電壓輸出線)在頻率107MHz 的輻射比較強(上圖中的10MHz 處點輻射也很強,后來發現是頻譜儀的問題)通過以上兩步基本查到了不同頻率點的輻射源,下面的問題相對就比較容易了!當然我們可以看到上圖的信號比較微弱,可以配套本公司的EM8020A/B 放大器,測試效果如下:

       

       

      后級加放大器后,看到測到的輻射強度明顯增加,靈敏度提高很多!

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