牛頓頻率特性掃頻儀(FRA)是一種高精度測量儀器,用于在頻域中分析組件,電路和系統(稱為被測設備或DUT)。
發布日期:2024-01-02
一、頻率特性掃頻儀概述
什么是頻率響應分析儀? 頻率響應分析儀(FRA)是一種高精度測量儀器,用于在頻域中分析組件,電路和系統(稱為被測設備或DUT)。牛頓頻率響應分析儀通常會生成一個正弦值號,并將其注入被測組件,電路或系統中。使用FRA上的一個輸入通道(通常是通道1)在注入點測量該值號,注入信號通過被測設備,并且頻率響應分析儀在第二個參考點同時測量同一信號-通常是使用通道2的系統輸出,使用正弦波可以確定系統的頻域行為(頻率響應)。
二、頻率特性掃頻儀應用范圍
對于任何硬件工程師來說,頻率響應分析儀都應被視為與示波器一樣重要,它是一種主要的設計工具,它將在任何硬件工程師的測試臺上發揮重要作用。重要的是要記住,N4L FRA是精密儀器,具有經過校準的輸入并提供通常僅在計量學中才能看到的測量精度。
FRA可用于表征輸入濾波器電路的增益/相位響應,確定晶體管的AC信號行為,確定伺服電機控制系統是否穩定,使工程師能夠確定設備的傳遞函數或子系統。這些只是頻率響應分析儀可以應用的成千上萬種應用中的幾種。
三、技術規格
型號 | SFRA45 | PSM1700 | PSM1735 | PSM3750 |
基本精度 | 0.02dB | 0.02dB | 0.01dB | 0.01dB |
相位精度 | 0.025° | 0.02° | 0.02° | 0.05° |
頻率范圍 | 5Hz~45MHz | 10uHz~1MHz | 10uHz~35MHz | 10uHz~50MHz |
測量 | 實時DFT | 實時DFT | 實時DFT | 實時DFT |
四、其他產品
SIGLENT SDG6000X系列 脈沖/任意波形發生器,輸出頻率500 MHz,具備2.4GSa/s采樣率和16bit垂直分辨率的優 異采樣系統指標,在傳統的DDS技術基礎上,采用了創新的TrueArb和EasyPulse技術,克服了DDS技術的先天缺陷,能夠為用戶提供高保真、低抖動的高速任意波和脈沖信號。